基本信息
| 标准名称： | 高纯砷 |
| 英文名称： | High-purity arsenic |
| 中标分类： | 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属 |
| ICS分类： | 电气工程 >> 半导体材料 |
| 替代情况： | 替代YS/T 43-1992 |
| 发布部门： | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 发布日期： | 2011-12-20 |
| 实施日期： | 2012-07-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 全国有色金属标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国有色金属标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 峨嵋半导体材料厂、峨眉山嘉美高纯材料有限公司 |
| 起草人： | 杨卫东、程高明、邹同贵、王飞、廖敏 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2012-07-01 |
| 页数： | 8页 |
| 书号： | 155066·2-23624 |
适用范围
本标准规定了高纯砷的分类和标记、要求、试验方法、检验规则、产品标识、包装、运输、贮存等。
本标准适用于以工业砷为原料，经升华、氯化、精馏、氢还原等加工提纯后制成的纯度不小于99.999%、99.9999%、99.99999%的高纯砷。产品主要用于制造砷化镓等Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体、外延源以及半导体掺杂剂等。
前言
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目录
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引用标准
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GB16483 化学品安全技术说明书 编写规定
JT617 汽车运输危险货物规则
YS/T34.1—2011 高纯砷化学分析方法 电感耦合等离子质谱法(ICP-MS)测定高纯砷中杂质含量
YS/T34.2—2011 高纯砷化学分析方法 极谱法测定硒量
YS/T34.3—2011 高纯砷化学分析方法 极谱法测定硫量
所属分类： 冶金 半金属与半导体材料 半金属 电气工程 半导体材料