基本信息
| 标准名称： | 半导体器件 机械和气候试验方法 |
| 英文名称： | Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods |
| 中标分类： | 医药、卫生、劳动保护 >> 医药、卫生、劳动保护综合 >> 技术管理 |
| 替代情况： | 参见GB/T 4937-1985 |
| 发布日期： | 1987-09-14 |
| 实施日期： | 1987-09-14 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 22页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 医药 卫生 劳动保护 医药 卫生 劳动保护综合 技术管理