【英文标准名称】:StandardGuideforMeasuringDiameterofSiliconandOtherSemiconductorWafers
【原文标准名称】:测定硅和其他半导体薄片直径的标准指南
【标准号】:ASTMF2074-2000
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(Guide)
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:silicon;diameter;semiconductingmaterials;siliconwafers
【摘要】:ThisstandardwastransferredtoSEMI(www.semi.org)May20031.1Thisguidedefinesstandardizedpositionsformeasuringdiameterofcircularwafersofsiliconandothersemiconductingmaterialsthatcontainflatsornotchesontheperiphery.It
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:3P.;A4
【正文语种】:
基本信息
| 标准名称： | 扬声器主要性能测试方法 |
| 中标分类： |
通信、广播 >>
广播、电视设备 >>
印象、电声设备 |
| 替代情况： | 被GB/T 9396-1996代替 |
| 发布日期： | 1900-01-01 |
| 实施日期： | 1988-11-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 通信 广播 广播 电视设备 印象 电声设备